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Cassification
技術文章/ Technical Articles
光電直讀光譜儀由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。光源部分使試樣激發發光;聚光部分是把發出的光聚集起來導入分光部分;分光部分是將光色散成各元素的譜線;測光部分是用光電法測量各元素的譜線強度,并指示、記錄下來,或是將其測光讀數換算成為元素質量分數表示出來。1.光源發生器光電直讀光譜儀的光電光譜分析使用的光源發生器有火花發生器、電弧發生器和低壓電容放電發生器等。2.光源的電極架部分用于裝載塊狀試樣、棒狀試樣和對電極。塊狀電極架一般能裝直徑20mm以上的平面試樣,有的使...
光譜起源于17世紀,1666年物理學家Newton第一次進行了光的色散實驗。他在暗室中引入一束太陽光,讓它通過棱鏡,在棱鏡后面的白屏上,看到了紅、橙、黃、綠、藍、靛、紫7種顏色的光分散在不同位置上,這種現象被稱作光譜。到1802年英國化學家Wollaston發現太陽光譜不是一道無缺的彩虹,而是被一些黑線所割裂。1814年德國光學儀器專家Fraunhofer研究太陽光譜中的黑斑的相對位置時,采用狹縫裝置改進光譜的成像質量把那些主要黑線繪出光譜圖。1825年Talbot研究鈉鹽、...
X射線衍射儀三個物理量:衍射譜上可以直接得到的有三個物理量,即衍射峰位置(2θ)、衍射峰強度(I)及衍射峰形狀(f(x))。粉末衍射可解決的任何問題或可求得的任何結構參數一般都是以這三個物理量為基礎的。X射線衍射儀主要技術參數:一臺好的儀器應能得到準確(測得的數值與其真值相符)并精確(測量重復性好)的2θ、I及f(x),需要考慮下列幾個主要技術參數:1、X射線發生器的穩定度:這不僅關系到所測衍射強度的準確可靠,而且關系到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外...
X射線衍射儀的基本構造X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構成很相似,為X射線衍射儀的基本構造原理圖,主要部件包括4部分。(1)高穩定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2)樣品及樣品位置取向的調整機構系統樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。(3)射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。(4)衍射圖的處理分析系統現代X射線衍...
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見,隨即被實驗所證實。1913年,英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上,不僅成功的...
鋰中Al的元素測定EDXRF分析報告這是在FMC鋰工廠(NorthCarolina)現場作的演示.用戶提供了7塊鋰中鋁的校正片,濃度范圍2--4800ppm.在3小時內,儀器設置,冷卻,建立校正曲線,分析樣品并作精密度測定。
磁鐵礦粉中鐵及14種雜質元素的ED-XRF同時分析背景:過去,此項分析的常規方法是化學法,耗時費力,采用ED-XRF可以同時測定主量元素和14種雜質元素,耗時只幾分鐘,不只快得多,而且大節省人力和材料消耗。
銅合金中Cu,Sn,Ni,Zn的ED-XRF分析(1)儀器:ARLQUANTX型X-射線熒光能譜儀儀器特點:ARLQUANTX型X-射線熒光能譜儀是一種高性能的多元素同時分析系統。
硅錳中Si,P,Mn,S的ED-XRF分析儀器:ARLQUANT'X型X-射線熒光能譜儀儀器特點:ARLQUANTX型X-射線熒光能譜儀是一種高性能的多元素同時分析系統。
儀器:ARLQUANT’X型X-射線熒光能譜儀儀特點:ARLQUANT’X型X-射線光能譜儀是一種高性能的多元素同時分析系統。元素分析范圍:Na-,可滿足多種樣品類型,如固體,液體,塊狀,薄膜等。
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